光速的测量（位相法）

光速的测量（位相法）

光在真空中的传播速度是一个重要的基本物理常数，许多重要的物理概念和物理量都与它有着密切的联系。例如光谱学中的里德堡常数，电子学中真空磁导率与真空电导率之间的关系，普朗克黑体辐射公式中的第一辐射常数、第二辐射常数，质子、中子、电子等基本粒子的质量等常数都与光速c相关。现在，光在一定时间中走过的距离已经成为一切长度测量的单位标准，即“米的长度等于真空中光在1/299,792,458秒的时间间隔中所传播的距离。”光速也已直接用于距离测量，如天文学中的光年。

1676年丹麦天文学家罗默通过观测木星对其卫星的掩食首次测量了光速。自此以后，在各个时期，人们都用当时最先进的技术和方法来测量光速，先后有旋转齿轮法、转镜法、克尔盒法、变频闪光法等光速测量方法。1941年，美国人安德森利用克尔盒作为光开关，调制光束，测得光速值为2.99766×108m/s。1952年，英国物理学家费罗姆用微波干涉仪法测量光速，测得光速值为299792.50±0.10km/s。1973年和1974年，美国国家标准局和美国国立物理实验室用激光对光速作了测定，测得光速分别为299792.4574±0.0011km/s和299792.4590 ±0.008 km/s。

实验目的

掌握一种新颖的光速测量方法，了解和掌握光调制的一般性原理和基本技术。

实验原理

物理学告诉我们，任何波的波长是波在一个周期内传播的距离，而波的频率是指1秒种内发生了多少次周期振动，用波长乘以频率得1秒钟内波传播的距离，即波速：

c = λ• f (1)

图1 两列不同的波

图1中，第1列波在1秒内经历3个周期，第2列波在1秒内经历1个周期，在1秒内二列传播相同距离，所以波速相同，只是第2列波的波长是第1列的3倍。

利用这种方法，很容易测得声波的传播速度，但直接用来测量光波的传播速度，还存在很多技术上的困难。主要是光的频率高达1014Hz，目前的光电接收器无法响应频率如此高的光强变化，迄今仅能响应频率在108Hz左右的光强变化并产生相应的光电流。

如果直接测量河中水流的速度有困难，可以采用一种方法：周期性地向河中投放小木块(f)，再设法测量出相邻两小木块间的距离(λ），依据公式(1)即可算出木块移动的速度，而这一速度和水流流动的速度相等。

周期性地向河中投放小木块，为的是在水流上作特殊标记。我们也可以在光波上作一些特殊标记，称作“调制”。调制波的频率可以比光波的频率低很多，就可以用常规器件未接收光信号了。与木块的移动速度就是水流的流动速度一样，调制波的传播速度就是光波的传播速度。调制波的频率可由数字式频率计精确地测定，只要再测量出调制波的波长，然后利用公式c = λ• f即可得到光速值。

本实验中用位相法来测定调制波的波长。

波长为0.65μm的载波,其强度受频率为f的正弦型调制波的调制，表达式为

式中m为调制度，cos2πf (t-x/c)表示光在测线上传播的过程中，其强度的变化犹如一个频率为f的正弦波以光速c沿x方向传播，我们称这个波为调制波。调制波在传播过程中其位相是以2π为周期变化的。设测线上两点A和B的位置坐标分别为x1和x2，当这两点之间的距离为调制波波长λ的整数倍时，该两点间的位相差为

式中n为整数。反过来，如果我们能在光的传播路径中找到调制波的等位相点，并准确测量它们之间的距离，那么这距离一定是波长的整数倍。

设调制波由A点出发，经时间t后传播到A′点，AA′之间的距离为2D，则A′点相对于A点的相移为φ=ωt=2πft，见图2 (a)。然而仅用一套测相系统还不能直接测量出AA'间的相移量。为了解决这个问题，较方便的办法是在AA′的中点B设置一个反射器，由A点发出的调制波经反射器反射返回A点，见图2 (b)。由图显见，光线由A→B→A所走过的光程亦为2D，而且在A点，反射波的位相落后φ=ωt。如果我们以发射波作为参考信号（以下称之为基准信号），将它与反射波（以下称之为被测信号）分别输入到位相计的两个输入端，则由位相计可以直接读出基准信号和被测信号之间的位相差。当反射镜相对于B点的位置前后移动半个波长时，这个位相差的数值改变2π。因此只要前后移动反射镜，相继找到在位相计中读数相同的两点，该两点之间的距离即为半个波长。

图2 位相法测波长原理图

在实际测相的过程中，当信号频率很高时，测相系统的稳定性、工作速度以及电路分布参量造成的附加相移等因素都会直接影响测相精度，对电路的制造工艺要求也较苛刻，因此高频下测相困难较大。例如，BX21型数字式位相计中检相双稳电路的开关时间是40ns左右，如果所输入的被测信号频率为100MHz，则信号周期T=1/f=10ns，比电路的开关时间要短，可以想像，此时电路根本来不及动作。为使电路正常工作，就必须大大提高其工作速度。为了避免高频下测相的困难，人们通常采用差频的办法，把待测高频信号转化为中、低频信号处理。这样做的好处是很好理解的，因为两信号之间位相差的测量实际上被转化为两信号过零的时间差的测量，而降低信号频率f则意味着拉长了与待测的位相差φ相对应的时间差。差频前后两信号之间的位相差保持不变。

图3 位相法测光速实验装置方框图

本实验就是利用差频检相的方法，将f=100MHz的高频基准信号和高频被测信号分别与本机振荡器产生的高频振荡信号混频，得到两个频率为455KHz、位相差依然为φ低频信号，然后送到位相计中去比相。仪器方框图如图3所示，图中的混频Ⅰ用以获得低频基准信号，混频Ⅱ用以获得低频被测信号。低频被测信号的幅度由示波器或电压表指示。

实验装置

光速测量仪，示波器。

南京浪博LM2000A型光速测量仪

1、主要技术指标

可变光程：0~1m

导轨标尺最小读数：0.1 mm

调制频率：100MHz

测量精度：≤1％（数字示波器测相）

≤2％（通用示波器测相）

LM2000A型光速测量仪全长0.8M，由电器盒、收发透镜组、棱镜小车、带标尺导轨等组成。

2、电器盒

电器盒采用整体结构，稳定可靠，端面安装有收发透镜组，内置收、发电子线路板。侧面有二排Q9插座，参见图4。

1测频 2调制 3基准（方波） 4基准（正弦）

5测相（方波） 6测相（正弦） 7电平

图4 Q9座接线图

3、 棱镜小车

棱镜小车上有供调节棱镜左右转动和俯仰的两只调节把手。由直角棱镜的入射光与出射光的相互关系可以知道，其实左右调节时对光线的出射方向不起什么作用。在棱镜小车上有一只游标，使用方法与游标卡尺相同，通过游标可以读至0.1mm。

4、光源和光学发射系统

采用GaAs发光二极管做为光源。这是一种半导体光源，当发光二极管上注入一定的电流时，在p-n结两侧的p区和n区分别有电子和空穴的注入，这些非平衡载流子在复合过程中将发射波长为0.65um的光，此即上文所说的载波。用机内主控振荡器产生的100MHz正弦振荡电压信号控制加在发光二极管上的注入电流。当信号电压升高时注入电流增大，电子和空穴复合的机会增加而发出较强的光；当信号电压下降时注入电流减小、复合过程减弱，所发出的光强度也相应减弱。这样就实现了对光强的直接调制。图5是发射、接收光学系统的原理图。发光管的发光点S位于物镜L1的焦点上。

图5 收、发光学系统原理图

5、光学接收系统

用硅光电二极管作为光电转换元件，该光电二极管的光敏面位于接收物镜L2的焦点R上，见图6。光电二极管所产生的光电流的大小随载波的强度而变化。因此在负载上可以得到与调制波频率相同的电压信号，即被测信号。被测信号的位相对于基准信号落后了φ＝ωt，t 为往返一个测程所用的时间。

图6 光学接收系统原理图

实验内容

1、预热

电子仪器都有一个温飘问题，光速仪和频率计须预热半小时再进行测量。在这期间可以进行线路联接，光路调整，示波器调整和定标等工作。

2、光路调整

先把棱镜小车移近收发透镜处，用小纸片挡在接收物镜管前，观察光斑位置是否居中。调节棱镜小车上的把手，使光斑尽可能居中，将小车移至最远端，观察光斑位置有无变化，并作相应调整，达到小车前后移动时，光斑位置变化最小。

3、示波器定标

使用双踪示波器时，将示波器的扫描同步方式选择在外触发同步，极性为+或-，“参考”相位信号接至CH1通道输入端，“信号”相位信号接至CH2通道，并用CH1通道触发扫描，将“参考”相位信号显示方式设为“断续”。调节“触发”电平，使波形稳定；调节Y轴“增益”，使有一个适合的波幅；调节“时基”，使在屏幕上显示一个完整的大小适合的波形。

开始测量时，记住波形某特征点的起始位置，移动棱镜小车，波形移动，记录下移动的格数r，对比一个完整的波形的格数r0，可算出参考相位与信号相位的变化量，参见图7。

图7 示波器测相位

如果使用的是数字示波器，可利用其光标卡尺测量功能，移动光标，进行T和ΔT测量，然后按Δφ=·2π求得相位变化量，这种方法比数屏幕上格子的精度要高得多。信号线联接等操作同上。

4、测量光速

由频率、波长的乘积来测定光速的原理和方法前面已经作了说明。在实际测量时主要任务是测得调制波的波长，其测量精度决定了光速值的测量精度。一般可采用等距离测量法和等相位测量法来测量调制波的波长。在测量时要注意两点，一是实验值要取多次多点测量的平均值；二是我们所测得的是光在大气中的传播速度，为了得到光在真空中传播速度，要精密地测定空气折射率后作相应修正。

1>测调制频率

为了匹配好，尽量用频率计附带的高频电缆线。调制波是用温补晶体振荡器产生的，频率稳定度很容易达到10，所以在预热后正式测量前测量一次就可以了。

2>等距离测λ

在导轨上任取若干个等间隔点（见图8），他们的坐标分别为，，，，……；

-= D1， -= D2，…， -= Di

图8 根据相移量与反射镜距离之间的关系测定光速

移动棱镜小车，由示波器或相位计依次读取与距离D1，D2，…相对应的相移量φi。

Di与φi间有：

求得λ后，利用λ• f得到光速c。

也可用作图法，以φ为横坐标，D为纵坐标，作D-φ直线，则该直线斜率的4πf倍即为光速c。

为了减小由于电路系统附加相移量的变化给位相测量带来的误差，应采取--及--的顺序进行测量。

操作时移动棱镜小车要快、准，如果两次位置时的读数值相差0.1度以上，需重测。

3>等相位测λ

在示波器上或相位计上取若干个整格/度数的相位点，如1格/36º，2格/72º，3格/108º等；在导轨上任取一点为，并在示波器上找出信号相位波形上一特征点作为相位差0位，拉动棱镜，至某个整相位数时停止，迅速读取此时的距离值作为，并尽快将棱镜返回至0处，再读取一次，并要求两次0时的距离读数误差不超过1mm，否则需重测。

依次读取相移量φi对应的Di值，由计算出光速值c。

可以看到，等相位测λ法比等距离测λ法具有更高的测量精度。

注意事项

激光光源点亮后会发出较强的激光，对人眼会造成伤害，故在使用中，禁止直视光源。

棱镜和发射/接收管平时不用时用塑料套包好，防止落灰。

思考题

1、通过实验观察，你认为波长测量的主要误差来源是什么？为提高测量精度需做哪些改进？

2、本实验所测定的是100MHz调制波的波长和频率，能否把实验装置改成直接发射频率为100MHz的无线电波并对它的波长和进行绝对测量，为什么？

附件：

证明：差频前后两信号之间的位相差保持不变。

我们知道，将两频率不同的正弦波同时作用于一个非线性元件（如二极管、三极管）时，其输出端包含有两个信号的差频成分。非线性元件对输入信号X的响应可以表示为

y(x)=A0+A1x+A2x2+··· (1)

忽略上式中的高次项，我们将看到二次项产生混频效应。

设基准高频信号为

(2)

被测高频信号为

(3)

现在我们引入一个本振高频信号

(4)

式(2)—(4)中，φ0为基准高频信号的初位相，φ0’为本振高频信号的初位相，φ为调制波在测线上往返一次产生的相移量。将式(3)和(4)代入式(1)有(略去高次项)：

(5)

展开交叉项

由上面推导可以看出,当两个不同频率的正弦信号同时作用于一个非线性元件时，在其输出端除了可以得到原来两种频率的基波信号以及它们的二次和高次谐波之外，还可以得到差频以及和频信号，其中差频信号很容易和其他的高频成分或直流成分分开。同样的推导，基准高频信号u1与本振高频信号u′混频，其差频项为

为了便于比较,我们把这两个差频项写在一起：

基准信号与本振信号混频后所得差频信号为

(6)

被测信号与本振信号混频后所得差频信号为

(7)

比较以上两式可见，当基准信号、被测信号分别与本振信号混频后，所得到的两个差频信号之间的位相差仍保持为φ。

影响测量准确度和精度的几个问题

用位相法测量光速的原理很简单，但是为了充分发挥仪器的性能，提高测量的准确度和精度，必须对各种可能的误差来源做到心中有数。下面就这个问题作一些讨论。

由c = λ• f可知

式中Δf/f为频率的测量误差。由于电路中采用了石英晶体振荡器，其频率稳定度为10-6-10-7，故本实验中光速测量的误差主要来源于波长测量的误差。下面我们将看到，仪器中所选用的光源的位相一致性好坏、仪器电路部分的稳定性、信号强度的大小以及米尺准确度、噪音等诸因素都直接影响波长测量的准确度和精度。

1、电路稳定性

图1 电路系统的附加相移

我们以主控振荡器的输出端作为位相参考原点来说明电路稳定性对波长测量的影响。参见图1，φ1，φ2分别表示发射系统和接收系统产生的相移，φ3，φ4分别表示混频电路Ⅱ和Ⅰ产生的相移，φ为光在测线上往返传输产生的相移。由图看出，基准信号u1到达测相系统之前位相移动了φ4，而被测信号u2在到达测相系统之前的相移为φ1+φ2+φ3+φ。这样和u1之间的位相差为φ1+φ2+φ3-φ4+φ=φ′+φ。其中φ′与电路的稳定性及信号的强度有关。如果在测量过程中φ′的变化很小以致可以忽略，则反射镜在相距为半波长的两点间移动时，φ′对波长测量的影响可以被抵消掉；但如果φ′的变化不可忽略，显然会给波长的测量带来误差。设反射镜处于位置B1时u1和u2之间的位相差为△φB1=φB1′+φ；反射镜处于位置B2时,u2与u1之间的位相差为△φB1=φB2′+φ+2π。那么，由于φB1′≠φB2′而给波长带来的测量误差为(φB1′-φB2′)/2π。若在测量过程中被测信号强度始终保持不变，则变化主要来自电路的不稳定因素。

然后，电路不稳定造成的φ′变化是较缓慢的。在这种情况下，只要测量所用的时间足够短，就可以把φ′的缓慢变化作线性近似，按照图2中B1-B2-B1的顺序读取位相值，以两次B1点位置的平均值作为起点测量波长。用这种方法可以减小由于电路不稳定给波长测量带来的误差。

图2 消除随时间作线性变化的系统误差

2、幅度误差

图3 数字测相电路方框图及各点波形

上面谈到φ′与信号强度有关，这是因为被测信号强度不同时，图3所示的电路系统产生的相移量φ1, φ2, φ3，可能不同，因而φ′发生变化。通常把被测信号强度不同给位相测量带来的误差称为幅相误差。

3、照准误差

本仪器采用的GaAs发光二极管并非是点光源而是成像在物镜焦面上的一个面光源。由于光源有一定的线度，故发光面上各点通过物镜而发出的平行光有一定的发散角θ。图4示意地画出了光源有一定线度时的情形，图中d为面光源的直径，L为物镜的直径，f为物镜的焦距。由图看出θ＝d/f。经过距离D后，发射光斑的直径MN=L+θD。比如，设反射器处于位置B1时所截获的光束是由发光面上a点发出来的光，反射器处于位置B2时所截获的光束是由b点发出的光；又设发光管上各点的位相不相同，在接通调制电流后，只要b点的发光时间相对于a点的发光时间有67ps的延迟，就会给波长的测量来接近2cm的误差（c·t= 3×1010×67×10－12 ≈2.0）。我们把由于采用发射光束中不同的位置进行测量而给波长的误差称为照准误差。

图4 不正确照准引起的测相误差

为提高测量的准确度，应该在测量过程中进行细心的“照准”，也就是说尽可能截取同一光束进行测量，从而把照准误差限制到最小程度。

4、米尺的准确度和读数误差

本实验装置中所用的钢尺准确度为0.01％。

5、噪声

我们知道噪声是无规则的，因而它的影响是随机的。信噪比的随机变化会给相测量带来偶然误差。提高信噪比以及进行多次测量可以减小噪声的影响从而提高测量精度。

本文来源：https://www.2haoxitong.net/k/doc/2046292be2bd960590c677b5.html