CPK名词解释及方程式组成结构:
CPK=CP *(1 - K)
U:设计目标数
设计上、下限: 设计上限: 平均数+ 3σ 设计下限: 平均数- 3σ
控制上、下限:图纸的控制要求尺寸,如 100±0.25 ,则尺寸控制上限为100.25,控制下限为99.75。
X – (AVERAGF): 平均数(每组数据总和的平均值)
R :客户所需求的σ倍数 N :数据组内的数据个数
∑ :求合数
CPK计算例题
某产品其中一项尺寸控制要求为100mm±0.25mm,取10pcs产品进行测量,数据分别为:
NO | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 |
规格尺寸 | 100±0.25 | 100±0.25 | 100±0.25 | 100±0.25 | 100±0.25 | 100±0.25 | 100±0.25 | 100±0.25 | 100±0.25 | 100±0.25 |
实测尺寸 | 100.21 | 100.25 | 100.20 | 100.19 | 100.18 | 100.17 | 100.16 | 100.18 | 100.19 | 100.23 |
该项尺寸控制上限为100.25mm,控制下限为99.75。
X –=(100.21+100.25+100.20+100.19+100.18+100.17+100.16+100.18+100.19+100.23)/10 = 100.196
= = 0.02615339366 ≈ 0.026
CP = (100.25-99.75)/ [ 100.196+3*0.026 – (100.196-3*0.026) ] = 0.5 / 0.156 = 3.20512820512 ≈ 3.205
K = (100.205-100.196) / [ (0.078- (-0.078)/2 ] =0.009/0.078 = 0.115
CPK = 3.025*(1-0.115) =3.025*0.885 = 2.677
一、公式
1
、
Ca=(
實際平均值
-
規格中心值
)/(
規格公差
/2)=(X-μ)/(T/2)
T=Su-S1=
規格上限
-
規格下限
=
規格公差
CP=
規格公差
/6
個估計實際標準差
=T/6δ
Cpk=(1-|Ca|)*Cp
2
、
CPK=(1-K)*CP;
其中
CP=(
规格上限
-
下限)
/
(
6SIGMA)
K=(
平均值
-
规格中心值)
/
(规格上限
-
下限)
*2
※制程准確度Ca(Capability of Accuracy)
Ca值是衡量制程之實際平均值與規格中心值之一致性
一 Ca之計算:
Ca=
實際中心值-規格中心值
x100%= X- U X100%
規格公差的一半 T/2
T=SU-SL =規格上限-規格下限
等級判定
Ca
值越小
,
品質越佳
.
依
Ca
值的大小分為四個等級
注:分母之所以取規格公差的一半是為了易知 X 是較規格中心值U 偏高或偏低.
A
級
:
理想的狀態故維持現狀
.B
級
:
盡可能調整
,
改進為
A
級
.
C
級
:
應立即檢討并予于改善
.D
級
:
應采取緊急措施
,
并全面檢討
,
必要時應考虙停止生產
.
制程精密度
Cp(Capability of Precision)
Cp
值是衡量規格公差范圍與制程變量寬度兩者之間相差的程度。
Cp
值之計算
(
分兩種情況:單邊規格和雙邊規格
)
單邊規格時:
Cp=
規格上限-實際平均值
= Su-X (SU > X,
只有上限規格
)
3
個估計實際值標准差 3δ
Cp=
實際平均值-規格下限
=
X- SL (SL < X,
只有下限規格
)
本文来源:https://www.2haoxitong.net/k/doc/07c9f39fb04e852458fb770bf78a6529647d3536.html
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