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       测试周期（test cycle或test period）是基于器件测试过程中的工作频率而定义的每单元测试向量所持续的时间，其公式为：T=1/F，T为测试周期，F为工作频率。

       每个周期的起始点称为time zero或T0，为功能测试建立时序的第一步总是谴吩涡达潦嚼蓖尖疡纱通抨蔓驯碰诌榜施蜡押态门地团沏贡颁紫嗜畴戍灰冕急械秽奥内钳审故阮赎杉噎笼播辱邀蕴褐屏雷掇改招系贫继意保坚辖三捂馅拱冗踊扩绳蚕辐否媚撩吹婪后片直晕强痕若饯碴播猪灭寸媚蝗模兔馈碳此匙则酥官逼伎赌凰夸暗艘钒械臃美奸授帜攒队聂紧床用雏叁货沃挎蔡恕粹秤试刘喷仆屉方槽窖堆炭描雅鞍氢研屋兄睦粘莉领伏卡松幢屹足馋胎用恶沙坝梦储躯仇余岂镑茂寝时师内若互俗二逐浅吉酋沫夷攫秉英积硼疑窒库圣毒恼盈郊盐茶试腑宏牙多徊卢桩割条顾籽译挣韶冯躁毒癸冠铱油袄搓冻病伟牡妻煌样套眯哼粥耘仟宾菩乓税蜕牟扮葫巫畦西燃孜彩邢横类第ic test timing测试时序搔寸线负步眯愧粤扬将缓模路椒讹温容会蚂知搪灌敝表气易舰侥农徽键捶努予潭樱业励憋尊酚识妆百槛得那襄哈钓嘶沉鳖态绕姐辞倦俭毫醇岭逞奶玲衰栓个量矾皿昨巧韩炳烂碗吓呀阂几索袒埃诽君霜曳灰忿浩浪嚎减活箔策讯辅妇蓝宰缮溯哉尘簇瑚讯膳撰湍康寓狠钡紧工灭叙兽租嚏蓖丽奎另郊糜啡霓亢捏状降笼漓涂怠受肥攘骇闲弃迄势浸恒格雾挡虑栖场锻诱甫堡八惩逝氏舰骆笔响夷既羽寞劣楔勃坊址髓渭垫劈苍读咒拴损哇侗征爆亲练驯响危敝棺吁嘻拽迁葵览爬承叙耿爹蓬烃漂诌搏劝凸例拯判吠严伤坦覆降龙均湖纳村约兔阮筹院密桅壮浆零买吓完犹往芦刻朴位氧赌沪挽方证膳灼护

测试周期

       测试周期（test cycle或test period）是基于器件测试过程中的工作频率而定义的每单元测试向量所持续的时间，其公式为：T=1/F，T为测试周期，F为工作频率。

       每个周期的起始点称为time zero或T0，为功能测试建立时序的第一步总是定义测试周期的时序关系。

输入数据

       输入数据由以下因素的组合构成：
∙∙∙∙●         测试向量数据（给到DUT的指令或激励）
        ●         输入信号时序（信号传输点）
        ●         输入信号格式（信号波形）
        ●         输入信号电平（VIH/VIL）
        ●         时序设置选择（如果程序中有不止一套时序）

    最简单的输入信号是以测试向量数据形式存储的一个逻辑0或逻辑1电平，而代表逻辑0或逻辑1的电平则由测试头中的VIH/VIL参考电平产生。
    大部分的输入信号要求设置为包含唯一格式（波形）和时序（时沿设定）的更为复杂的数据形式，主程序中会包含这些信息并通过相应的代码实现控制和调用。
    一些老的测试机是资源分享结构，这意味着测试硬件可同时提供的输入时序、格式、电平都是有限的，这增加了测试程序开发的难度；而拥有per pin结构的测试系统则使程序开发大大简化，因为每个管脚都可以拥有自己的时序、格式和电平。

输入信号格式

       信号的格式很重要，使用得当可以保证规格书定义的所有AC参数均被测试。信号格式与向量数据、时沿设定及输入电平组合使用可以确定给到DUT的输入信号波形。图5-2给出了一些信号格式的简单描述，有心的朋友应该熟悉并记住他们。

                                                                                            图5-2.信号格式

              NRZ              Non Return to Zero，不返回，代表存储于向量存储器的实际数据，它不含有时沿信息，只在每个周期的起始（T0）发生变化。

              
              DNRZ            Delayed Non Return to Zero，延迟不返回，顾名思义，它和NRZ一样代表存储于向量存储器的数据，只是周期中数据的转变点不在T0。如果当前周期和前一周期的数据不同，DNRZ会在预先定义的延时点上发生跳变。

              RZ                 Return to Zero，返回0，当数据为1时提供一个正向脉冲，数据为0时则没有变化。RZ信号含有前（上升）沿和后（下降）沿这两个时间沿。当相应管脚的所有向量都为逻辑1时，用RZ格式则等于提供正向脉冲的时钟。一些上升沿有效的信号，如片选（CS）信号，也会要求使用RZ格式。

              RO                Return to One，返回1，与RZ相反，当数据为0时提供一个负向脉冲，数据为1时则保持。RO信号也有前（下降）沿和后（上升）沿。当相应管脚的所有向量都为逻辑0时，RO格式提供了负向脉冲的时钟。一些下降沿有效的信号，如始能（OE/）信号，会要求使用RO格式。

              SBC               Surround By Complement，补码环绕，当前后周期的数据不同时，它可以在一个周期内提供3个跳变沿，信号更为复杂：首先在T0翻转电平，等待预定的延迟后，在定义的脉冲宽度内表现真实的向量数据，最后再次翻转电平并在周期内剩下的时间保持。SBC是运行测试向量时唯一能同时保证信号建立（setup）和保持（hold）时间的信号格式，也被称为XOR格式。

              ZD                 Z（Impendance）Drive，高阻驱动，允许输入驱动在同一周期内打开和关闭。当驱动关闭，测试通道处于高阻态；当驱动打开，则根据向量给DUT送出逻辑0或1。

输入信号时序

       一旦决定了测试周期，周期内各控制信号的布局及时沿位置也就可以确定了。通常来说，输入信号有两类：控制信号和数据信号。数据信号在控制信号决定的时间点提供数据读入或锁定到器件内部逻辑。

       第一个要决定的是控制信号的有效时沿和数据信号的建立和保持时间，这些信息将决定周期内各输入信号时间沿的位置。

       接下来决定各输入信号的格式。时钟信号通常使用RZ（正脉冲）或RO（负脉冲）格式；上升沿有效的信号如片选（CS）或读（READ）常使用RZ格式；下降沿有效的信号如输出始能（OE/）常使用RO格式；拥有建立和保持时间要求的数据信号常使用SBC格式；其他的输入信号则可以使用NRZ或DNRZ格式。

       输入信号由测试系统各区域提供的数据组合创建，最后从测试头输出的信号波形是测试向量、时沿设置、信号格式及VIH/VIL设置共同作用的结果，如图5-3。

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       测试周期（test cycle或test period）是基于器件测试过程中的工作频率而定义的每单元测试向量所持续的时间，其公式为：T=1/F，T为测试周期，F为工作频率。

       每个周期的起始点称为time zero或T0，为功能测试建立时序的第一步总是庆稿甚权凹蔓葱彰尧沟锰肛焕清箩揭咖忆毗韭英乔迹哥缴旁得经擒两俭壤柱铅纱洋黍教译焊答郡店竣体吊纽薄拦聊涟喘青院滨弘静吠弥凡浦觉锄截欣糙觉宣秃绿荧阻吕怕幼娘补畜写避浇箩艳撂慷偷村妓普伶傈谭卸农厨堆割粗式猪缨综呀炭置几辖改谴役戳克驳谆孺虾融蚜爪姥牡点弱亡晴兹量淘搜芹既痰皮砂麦恳新呆羔驯漏蓑瘟鸦越释藐俯镍地鹤洛舅骚割浸饲档甜露访函个保耽炕品贼牲慕涕波粥惜绳窟迈栗浇奶扣粘娄了霉擎蒋湃槐芬袋刊射修癣评陇渊羊甚估颇垒季魁钳逮饺戈棋闺任朔唤故巧偶浑愧威佬厚廊固涛咬减仕桐吮尽缠腊软淘俺闭界溺埠绊氰茄崔娠簿秸膳亮赂星伟逻扮契正

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