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并行并发测试系统和方法

发布时间：2020-12-10 来源：文档文库

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（19）中华人民共和国国家知识产权局
（12）发明专利申请

（21）申请号 CN201280024249.5 （22）申请日 2012.05.18
（71）申请人塞勒林特有限责任公司

地址美国纽约州

（10）申请公布号 CN103547934A
（43）申请公布日 2014.01.29
（72）发明人霍华德·H·小罗伯茨
（74）专利代理机构北京金思港知识产权代理有限公司

代理人邵毓琴
（51）Int.CI
权利要求说明书说明书幅图
（54）发明名称

并行并发测试系统和方法
（57）摘要

提供了一种并行并发测试（PCT）系统，
该系统用于进行半导体器件的并行并发测试。该PCT系统包括取放（PnP）处理机，该拾放处理机用于接合所述半导体器件并沿着测试平面输送所述半导体器件，该PnP处理机包括至少一个操纵器。该PCT系统还包括被测器件接口板（DIB）和测试机，该DIB包括：用于所述半导体器件的宽边（BS）测试的宽边测试插槽，所述宽边测试使用半导体器件引脚总数的至少一半的引脚；和用

本文来源：https://www.2haoxitong.net/k/doc/4aea97a050d380eb6294dd88d0d233d4b04e3f62.html