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CaCu2.7Ti4O12介电性能和J-E特征
CaCu2.7Ti4O12介电性能和J-E特征
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96
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材料导报B:研究篇
2013年7月(下)第27卷第7期
CaCu2.7Ti4012介电性能和J—E特征*
吴爽爽1,莫兴婵1,韦成峰3,韦小圆1,朱文凤1,覃远东2,刘来君1
(1桂林理工大学材料科学与工程学院,桂林541004;2广西新未来科技股份有限公司,北海536000;
3先进半导体材料(深圳)有限公司,深圳518103)
摘要
采用传统的固相反应法制备了Cu欠量的CaCu3Ti4
01z(CaCu2.,Ti401z)陶瓷,研究了不同烧结时间对
CaCu2.,Ti4
012相结构、显微形貌、介电性能和.,也非线性特征的影响。结果表明,延长保温时间降低了CaCuz.,一
Ti4
01。陶瓷的中低频介电损耗和击穿场强并且显著提高了其介电常数。采用肖特基热电子发射模型对其非线性特
征和电学性能的变化机理进行了分析,认为耗尽层宽度是影响电学性能的主要因素。保温30
h的CaCu2.,Ti40。2陶
瓷有望作为低压压敏电阻应用于半导体电路中。
关键词
CCTO陶瓷电流一电压非线性压敏电阻器巨介电响应
中图分类号:TM28
文献标识码:A
Dielectric
Properties
and
J-E
Behavior
of
CaCu2.7
Ti4
012
Ceramics
WU
Shuangshuan91,MO
Xingchanl,WEI
Chengfen93,WEI
Xiaoyuanl,
ZHU
Wenfen91,QIN
Yuandonge,LIU
Laij
unl
(1
College
of
Materials
Science
and
Engineering,Guilin
University
of
Technology,Guilin
541004;2
Guangxi
New
Future
Information
Industry
Co.,Ltd,Beihai
536000;3
Advanced
Semiconductor
Material(Shenzhen)
CO.I,
.
en
5】8】03)
Abstract
Cu-deficient
CaCus
Ti4
012(CaCU2.7
Th
On)ceramics
were
prepared
by
a
traditional
solid-state
reac—
tion
method.The
influence
of
holding
time
on
the
phase
structure,microstructure,dielectric
and
J-E
nonlinear
charac-
teristics
was
investigated.The
results
indicate
that
prolonging
the
holding
time
can
decrease
the
dielectric
loss
of
low-
and
medium-frequency
and
enhances
greatly
dielectric
constant
of
CaCuz.7
Ti4
012
ceramics,as
well
as
reduces
the
breakdown
voltage
and
the
nonlinearity
coefficient,which
can
be
applied
in
semiconductor
circuits
as
varistors.The
characteristic
of
J—E
nonlinear
and
change
of
electrical
properties
were
explained
by
Sehottky
thermion
launch
model.
It
is
considered
that
the
width
of
depletion
layer
plays
an
important
role
in
electrical
properties.The
CaCuz
7
Ti4
012
ca—
ramics
with
holding
time
for
30
h
is
expected
to
apply
in
semiconductor
circuit
as
a
low
voltage
varistor.
Key
words
CCT0
ceramic,nonlinear
current-voltage,varistor,giant
dielectric
response
通常情况下介电常数较高(e>1000)的材料都会伴随着
粒组成,提出内部阻挡电容可能是产生巨介电的原因[2’5’6]。
铁电或弛豫行为[1],介电常数随温度会发生较大的变化,导
P.Leret等[7]认为,掺杂样品的晶粒周围被非常薄的第二相
致器件热稳定性的降低。Subramanian等[2’31首次报道了具
包围引起电流的非线性。Chung等[4]在晶界发现存在一个
有巨介电常数的CaCu。Ti。0,。(CCTO)材料,其在中低频范围
绝缘静电势垒(肖特基势垒Schottky
barrier),这个势垒阻碍
内介电常数可达12000,不仅如此,介电常数在很宽的温区
电流在半导体晶粒之间流过,从而使CCTO陶瓷具有极好的
(100~600
K)几乎不变,反映了其介电性能高的热稳定性。
电流一电压非线性特征和超高的介电常数。因此CCTO在压
Chung等[4]发现没有任何掺杂的CCTO具有明显的电流一电
敏电阻方面的应用开始受到很多重视[8--12]。
压非线性特征,非线性系数超过900,远高于ZnO陶瓷。由
当前压敏电阻主要集中在Zn0和SrTiOs体系上,随着
于这些良好的综合性能,CCT0有可能应用于高密度能量存
自动控制电路和半导体电路的发展,对变阻器的多样性也有
储、薄膜器件、高介电电容器以及压敏器件等一系列高新技
了很高的要求。ZnO基和SrTiOs基压敏材料由于击穿电压
术领域中。
太高而难以满足使用要求,而且其表面层结构使其难以改善
Subramanian等认为CCTO是由绝缘晶界和半导体晶
其击穿电压[1
3|。因此CCTO基陶瓷恰好满足当前微电子行
*国家自然科学基金(51002036);广西自然基金(C013002;BA053007);广西科学研究与技术开发计划资助(桂科攻12118017—
13);大学生“挑战杯”和广西大学生创新创业训练计划
吴爽爽:女,1988年生,硕士生,研究方向为功能陶瓷E-mail:564613284@qq.com刘来君:男,1981年生,博士,教授,从事功能
陶瓷研究Tel:0773—5896672
>
>
>
>
E-mail:ljliu2@163.corn
万方数据
本文来源:
https://www.2haoxitong.net/k/doc/1636c06acd7931b765ce0508763231126edb779b.html
《CaCu2.7Ti4O12介电性能和J-E特征.doc》
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